1.

国際会議録
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1. Surface and Bulk Properties of Oxygenated FZ Silicon Wafers for Particle Detector Applications
Bellutti, P. ; Boscardin, M. ; Betta, G.-F.Dalla ; Ferrario, L. ; Gregori, P. ; Zorzi, N.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.501-508,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
2.

国際会議録
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2. The Search for Cathode and Anode Traps in High-Voltage Stressed Sillicon Oxides
Chen, L. ; Kang, C.S. ; Oralkan, O. ; Dumin, D.J. ; Brown, G.A. ; Bellutti, P.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Silicon Nitride and Silicon Dioxide Thin Insulating Films.  pp.88-98,  1997.  Pennington, New Jersey.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-10
3.

国際会議録
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3. MOS C-t characteristics and gate oxide quality versus bulk iron contamination in epitaxial wafers
Bellutti, P. ; Collini, A. ; Zorzi, N. ; Vaccari, G. ; Crippa, D.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Crystalline Defects and Contamination, their Impact and Control in Device Manufacturing II.  pp.209-217,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-22
4.

国際会議録
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4. Gate oxide quality improvement nearby bird's beak region
Bellutti, P. ; Collini, A. ; Ferrario, L. ; Zorzi, N ; Zen, M.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Crystalline Defects and Contamination, their Impact and Control in Device Manufacturing II.  pp.204-208,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-22
5.

国際会議録
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5. Minority Carrier Diffusion Length Changes in Si Substrate Due to a High Temperature Annealing
Bellutti, P. ; Calderara, M. ; Porrini, M. ; Cornara, M. ; Olmo, M.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Symposium on High Purity Silicon V.  pp.304-312,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-13
6.

国際会議録
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6. CMOS Compatible Si/SiO2 Multilayers for Light Emitting Diodes
Gaburro, Z. ; Pavesi, L. ; Pucker, G. ; Bellutti, P.
出版情報: Microcrystalline and nanocrystalline semiconductors-2000 : symposium held November 27-30, 2000, Boston, Massachusetts, U.S.A..  2001.  Warrendale, PA..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 638
7.

国際会議録
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7. Visible light emission from a new material system:Si/SiO2 superlattices in optical microcavities
Pavesi, L. ; Pucker, G. ; Gaburro, Z. ; Cazzanelli, M. ; Bellutti, P.
出版情報: Frontiers of Nano-Optoelectronic Systems.  pp.121-136,  2000.  Dordrecht, MA.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO science series. Series 2, Mathematics, physics and chemistry
シリーズ巻号: 6
8.

国際会議録
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8. On the Improving of the Gate Oxide Reliability
Bellutti, P. ; Boscardin, M. ; Zen, M. ; Zorzi, N.
出版情報: The physics and chemistry of SiO[2] and the Si-SiO[2] interface-3, 1996 : proceedings of the Third International Symposium on the Physics and Chemistry of SiO[2] and the Si-SiO[2] Interface.  pp.635-644,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-1
9.

国際会議録
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9. Interstitial Oxygen Concentration Role in the DW-LOCOS CMOS Technology
Bellutti, P. ; Boscardin, M. ; Zen, M. ; Zordi, N. ; Vrtacnik, D. ; Calderara, M. ; Soncini, G.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.338-344,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13
10.

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10. Silicon-based near-infrared tunable filters based on liquid crystals
Mezzetti, A. ; Pucker, G. ; Crivellari, M. ; Kompocholis, C. ; Bellutti, P. ; Lui, A. ; Daldosso, N. ; Riboli, F. ; Saiani, M. ; Gaburro, Z. ; Pavesi, L.
出版情報: Optoelectronic Integration on Silicon.  pp.158-163,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5357