1.

国際会議録

国際会議録
Wiaux, V. ; Bekaert, J. ; Chen, J.F. ; Hsu, S.D. ; Ronse, K.G. ; Socha, R.J. ; Vandenberghe, G. ; Van Den Broeke, D.J.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XI.  pp.585-594,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5446
2.

国際会議録

国際会議録
Zibold, A. ; Stroessner, U. ; Ridley, A. ; Scherubl, T. ; Rosenkranz, N. ; Harnisch, W. ; Poortinga, E. ; Schmid, R. ; Bekaert, J. ; Philipsen, V. ; Van Look, L.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XX.  pp.61522F-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6152
3.

国際会議録

国際会議録
Finders, J. ; Engelen, A. ; Vandenberghe, G. ; Bekaert, J. ; Chen, T.
出版情報: Optical Microlithography XIX.  pp.615412-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6154
4.

国際会議録

国際会議録
Bekaert, J. ; Philipsen, V. ; Vandenberghe, G. ; van den Broeke, D. ; Degel, W. ; Zibold, A.
出版情報: 25th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  pp.59921O-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5992
5.

国際会議録

国際会議録
De Sutter, R. ; Lerouge, S. ; Bekaert, J. ; Rogge, B. ; Van De Ville, D. ; Van de Walle, R.
出版情報: Internet Multimedia Management Systems III.  pp.240-248,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4862
6.

国際会議録

国際会議録
Bekaert, J. ; Van De Ville, D. ; Rogge, B. ; Lerouge, S. ; De Sutter, R. ; De Kooning, E. ; Van de Walle, R.
出版情報: Internet Multimedia Management Systems III.  pp.22-29,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4862
7.

国際会議録

国際会議録
Rogge, B. ; De Sutter, R. ; Bekaert, J. ; Van de Walle, R.
出版情報: Internet Multimedia Management Systems III.  pp.1-11,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4862
8.

国際会議録

国際会議録
Lerouge, S. ; Rogge, B. ; De Sutter, R. ; Bekaert, J. ; Van De Ville, D. ; Van de Walle, R.
出版情報: Internet Multimedia Management Systems III.  pp.12-21,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4862
9.

国際会議録

国際会議録
Park, J. ; Hsu, S. ; Van Den Broeke, D. ; Chen, J. F. ; Dusa, M. ; Socha, R. ; Finders, J. ; Vleeming, B. ; van Oosten, A. ; Nikolsky, P. ; Wiaux, V. ; Hendrickx, E. ; Bekaert, J. ; Vandenberghe, G.
出版情報: Photomask Technology 2006.  pp.634922-634922,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6349
10.

国際会議録

国際会議録
Philipsen, V. ; Bekaert, J. ; Vandenberghe, G. ; Jonckheere, R. ; Van Den Broeke, D. ; Socha, R.
出版情報: 24th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  pp.669-679,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5567