1.

国際会議録
国際会議録
1. Some Issues on Controlling the Morphology of the Pores Formed in Monocrystalline Silicon by Electrochemical Process
Domanski,K. ; Polrolnik,E. ; Beck,R.B. ; Jakubowski,A. ; Zak,J.K.
出版情報: Physics of - Semiconductor Devices -.  Part 1  pp.628-631,  1998.  New Delhi.  Narosa Publishing House
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3316
2.

国際会議録
国際会議録
2. Non-Equilibrium Related Effects in MOS-SOI Structures Capacitance-Voltage Measurements Analysis
Zareba,A. ; Ikraiam,F. ; Beck,R.B. ; Jakubowski,A.
出版情報: Physics of - Semiconductor Devices -.  Part 2  pp.1080-1082,  1998.  New Delhi.  Narosa Publishing House
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3316