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検索結果:
2
件
1.
国際会議録
国際会議録
1.
Comparative Raman And Tem Analysis Of The Evolution Of Platelet Defects In Plasma Hydrogenated And Annealed Czochralski Silicon
Job, R. ; Beaufort, M.-F. ; Barbot, J.-F. ; Ulyashin, A.G. ; Fahrner, W.R.
出版情報:
Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A.
. pp.217-222, 2002. Warrendale, Pa. Materials Research Society
シリーズ名:
Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号:
719
2.
国際会議録
国際会議録
2.
Thermal Evolution of Hydrogen Related Defects in Silicon Investigated by u-Raman Spectroscopy
Ma, Y. ; Huang, Y.L. ; Job, R. ; Fahrner, W.R. ; Beaufort, M.-F. ; Barbot, J. -F.
出版情報:
High purity silicon VIII : proceedings of the international symposium
. pp.385-394, 2004. Pennington, N.J.. Electrochemical Society
シリーズ名:
Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号:
2004-05
しぼり込み条件:
著者名: Beaufort, M.-F.
言語
英語
(2)
発行年
2000-2009
(2)
資料種別
国際会議録
(2)
著者名
Fahrner, W.R.
(2)
Job, R.
(2)
Barbot, J. -F.
(1)
Barbot, J.-F.
(1)
Huang, Y.L.
(1)
さらに…
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