1.

国際会議録
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1. Optical figure testing by scanning deflectometry
van Amstel,W.D. ; Baumer,S.M.B. ; Horijon,J.L.
出版情報: Optical fabrication and testing : 26-28 May 1999, Berlin, Germany.  pp.283-290,  1999.  Bellingham, WA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3739
2.

国際会議録
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2. Metrology of injection-molded optical components with multiple optical functions
Timmers,W.A.C. ; Baumer,S.M.B. ; lersel,B.van ; Ras,A. ; Schipper,R.de ; Verkade,G.
出版情報: Gradient-index, miniature, and diffractive optical systems : 19 and 21 July 1999, Denver, Colorado.  pp.78-87,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3778
3.

国際会議録
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3. SLIOS:a contribution to standard procedures in stray light measurements
Baumer,S.M.B. ; Duparre,A. ; Herrmann,T. ; Schumann,U. ; Smorenburg,C. ; Kirschner,V. ; Mattsson,L.H. ; Quinteros,T. ; Berglind,R. ; Schippel,S.
出版情報: Optical fabrication and testing : 26-28 May 1999, Berlin, Germany.  pp.414-421,  1999.  Bellingham, WA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3739
4.

国際会議録
国際会議録
4. Design of a compact 3D laser scanner
Geusen,M. ; Amstel,W.D.van ; Baumer,S.M.B. ; Horijon,J.L.
出版情報: Design and engineering of optical systems II : 25-27 May 1999, Berlin, Germany.  pp.252-260,  1999.  Bellingham, WA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3737
5.

国際会議録
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5. Temperature-compensated plastic lens for visible light
Baumer,S.M.B. ; Timmers,W.A. ; Krichever,M. ; Gurevich,V.
出版情報: Design and engineering of optical systems II : 25-27 May 1999, Berlin, Germany.  pp.354-362,  1999.  Bellingham, WA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3737
6.

国際会議録
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6. Minideflectometer for measuring optical finish quality
van Amstel,W.D. ; Baumer,S.M.B. ; Couweleers,F.C.
出版情報: Optical fabrication and testing : 26-28 May 1999, Berlin, Germany.  pp.363-368,  1999.  Bellingham, WA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3739
7.

国際会議録
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7. Optical figure testing by scanning deflectometry
Amstel,W.D.van ; Baumer,S.M.B. ; Horijon,J.L.
出版情報: Optical Manufacturing and Testing III.  pp.320-327,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3782