1.

国際会議録
国際会議録
1. Characterization of 3D resist patterns by means of optical scatterometry
Bischoff,J. ; Hutschenreuther,L. ; Truckenbrodt,H. ; Bauer,A. ; Haak,U. ; Skaloud,T.
出版情報: In-line characterization, yield reliability, and failure analysis in microelectronics manufacturing : 19-21 May 1999, Edinburgh, Scotland.  pp.49-60,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3743
2.

国際会議録
国際会議録
2. Algorithmic solution for autonomous vision-based off-road navigation
Kolesnik,M. ; Paar,G. ; Bauer,A. ; Ulm,M.
出版情報: Enhanced and synthetic vision 1998 : 13-14 April, 1998, Orlando, Florida.  pp.230-247,  1998.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3364
3.

国際会議録
国際会議録
3. 3d-4d Transition Metal Complex Formation in Silicon
Czaputa,R. ; Midl,M. ; Feichtinger,H. ; Bauer,A.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.415-420,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
4.

国際会議録
国際会議録
4. Cavity surface measuring system using stereo reconstruction
Paar,G. ; Bauer,A.
出版情報: Intelligent Robots and Computer Vision XV: Algorithms, Techniques,Active Vision, and Materials Handling.  pp.207-217,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2904