1.

国際会議録

国際会議録
Leveque, P. ; Godey, S. ; Renault, P. O. ; Ntsoenzok, E. ; Barbot, J. F.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors, II : symposium held April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A..  pp.175-,  1998.  Warrendale, Pa.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 510
2.

国際会議録

国際会議録
Ntsoenzok, E. ; Desgardin, P. ; Blondiaux, G. ; Schmidt, D. C. ; Barbot, J. F. ; Blanchard, C. ; Renault, P. O.
出版情報: Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.395-,  1997.  Pittsburg, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 469