1.

国際会議録

国際会議録
Williams,R.M. ; Kelly,J.F. ; Sharpe,S.W. ; Hartman,J.S. ; Gmachl,C.G. ; Capasso,F. ; Sivco,D.L. ; Baillargeon,J.N. ; Cho,A.Y.
出版情報: Application of tunable diode and other infrared sources for atmospheric studies and industrial processing monitoring II : 19-20 July 1999, Denver, Colorado.  pp.11-22,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3758
2.

国際会議録

国際会議録
Sharpe,S.W. ; Kelly,J.F. ; Williams,R.M. ; Hartman,J.S. ; Cmachl,C.G. ; Capasso,F. ; Sivco,D.L. ; Baillargeon,J.N. ; Cho,A.Y.
出版情報: Application of tunable diode and other infrared sources for atmospheric studies and industrial processing monitoring II : 19-20 July 1999, Denver, Colorado.  pp.23-33,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3758
3.

国際会議録

国際会議録
Gmachl,C.G. ; Capasso,F. ; Faist,J. ; Sivco,D.L. ; Baillargeon,J.N. ; Hutchinson,A.L. ; Cho,A.Y. ; Namjou-Khaless,K. ; Cai,S. ; Whittaker,E.A. ; Kelly,J.F. ; Sharpe,S.W. ; Hartman,J.S.
出版情報: Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers III : 29-30 January, 1998, San Jose, California.  pp.144-153,  1998.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3285
4.

国際会議録

国際会議録
Faist,J. ; Sirtori,C. ; Capasso,F. ; Sivco,D.L. ; Baillargeon,J.N. ; Hutchinson,A.L. ; Chu,S.-N.G. ; Cho,A.Y.
出版情報: In-Plane Semiconductor Lasers: from Ultraviolet to Midinfrared.  pp.264-270,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3001
5.

国際会議録

国際会議録
Beck,M. ; Faist,J. ; Gmachl,C.G. ; Capasso,F. ; Sivco,D.L. ; Baillargeon,J.N. ; Cho,A.Y.
出版情報: In-Plane Semiconductor Lasers: from Ultraviolet to Mid-Infrared II.  pp.231-236,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3284