1.

国際会議録
国際会議録
1. PHOTO-EPR AND SPATIALLY RESOLVED EPR OF AsGa IN As-GROWN GaAs
Baeumler, M. ; Kaufmann, U. ; Windscheif, J.
出版情報: Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A..  pp.201-206,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 46
2.

国際会議録
国際会議録
2. PHOTOLUMINESCENCE IMAGING OF III-V SUBSTRATES AND EPITAXIAL HETEROSTRUCTURES
Jantz, W. ; Baeumler, M. ; Wang, Z. M. ; Windscheif, J.
出版情報: Physics and applications of defects in advanced semiconductors : symposium held November 29-December 1, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.409-,  1994.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 325