1.

国際会議録

国際会議録
S. J. Pearton ; L. C. Tien ; H. S. Kim ; D. P. Norton ; J. J. Chen ; H. T. Wang ; B. S. Kang ; F. Ren ; W. T. Lim ; J. Wright ; R. Khanna ; L. F. Voss ; L. Stafford ; J. Jun ; Jenshan. Lin
出版情報: Zinc oxide and related materials : symposium held November 27-30, 2006, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.3-14,  2007.  Warrrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 957
2.

国際会議録

国際会議録
H. T. Wang ; B. S. Kang ; F. Ren ; J. Jun. J. Lin ; L. C. Tien ; P. W. Sadik ; D. P.Norton ; L. F. Voss ; S. J. Pearton ; R. C. Fitch ; J. K. Gillespie ; N. Moser ; G. Jessen ; T. Jenkins ; R. Dettmer ; D. Via ; A. Crespo
出版情報: State-of-the-Art Program on Compound Semiconductors (SOTAPOCS XLIII) and Nitride and Wide Bandgap Semiconductors for Sensors, Photonics, and Electronics VI.  pp.238-247,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 1(2)
3.

国際会議録

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H. T. Wang ; B. S. Kang ; F. Ren ; R. C. Fitch ; J. K. Gillespie ; N. Moser ; G. Jessen ; T. Jenkins ; R. Dettmer ; D. Via ; A. Crespo ; J. Lin ; B. P. Gila ; C. R. Abernathy ; L. C. Tien ; D. P. Norton ; L. F. Voss ; S. J. Pearton
出版情報: State-of-the-Art Program on Compound Semiconductors (SOTAPOCS XLIII) and Nitride and Wide Bandgap Semiconductors for Sensors, Photonics, and Electronics VI.  pp.274-283,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 1(2)
4.

国際会議録

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K. N. Song ; K. J. Park ; K. H. Yoon ; G. J. Park ; B. S. Kang
出版情報: Plant operations and maintenance, major components reliability and materials issues, structural integrity, dynamics and mitigation, material cracking and failure, license renewal, life extension, decommissioning and decontamination.  1  pp.533-540,  2002.  New York, N.Y..  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Symposia Volumes
シリーズ巻号: ICONE 10(1)
5.

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K. N. Song ; B. S. Kang ; K. H. Yoon ; S. K. Choi ; G. J. Park
出版情報: Plant operations and maintenance, major components reliability and materials issues, structural integrity, dynamics and mitigation, material cracking and failure, license renewal, life extension, decommissioning and decontamination.  1  pp.541-550,  2002.  New York, N.Y..  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Symposia Volumes
シリーズ巻号: ICONE 10(1)
6.

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M. K. Shin ; B. S. Kang ; Y. I. Kim ; S. I. Yi ; G. J. Park
出版情報: 31st Design Automation Conference, Parts A and B; Volume 2.  2A  pp.627-636,  2005.  New York, N.Y..  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Symposia Volumes
シリーズ巻号: DETC 2005(2A)
7.

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S. J. Pearton ; B. S. Kang ; B. P. Gila ; D. P. Norton ; L. C. Tien
出版情報: Micro (MEMS) and nanotechnologies for space, defense and security II : 18-20 April, 2008, Orlando, Florida, USA.  pp.695903-1-695903-11,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6959
8.

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S. J. Pearton ; B. S. Kang ; B. P. Gila ; D. P. Norton ; L C. Tien
出版情報: Nanosensing : materials, devices and systems III : 11-12 September 2007, Boston, Massachusetts, USA.  pp.67690A-1-67690A-11,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6769