1.

国際会議録
国際会議録
1. Focused ion beam nano patterning for fabrications of III-nitride light emitting diodes
M. Y. Kim ; Y. C. Park ; S. S. Hong ; B. K. Kim ; D. W. Kim ; D. Y. Lee
出版情報: Emerging lithographic technologies XI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6517
2.

国際会議録
国際会議録
2. Confocal scanning electroluminescence spectro-microscope for multidimensional light-emitting property analysis
S. Hong ; G. Onushkin ; J. S. Park ; B. K. Kim ; D. Lee ; A. Fomin ; K. Ko ; J. W. Kim
出版情報: Gallium nitride materials and devices II : 22-25 January 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6473