1.

国際会議録

国際会議録
Arnold, W. ; Amelio, S. ; Hirsekorn, S. ; Rabe, U.
出版情報: Nondestructive methods for materials characterization : symposium held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.183-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 591
2.

国際会議録

国際会議録
Ottermann, C. R. ; Fassbender, S. U. ; Arnold, W. ; Bange, K.
出版情報: Thin films, stresses and mechanical properties VI : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.245-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 436
3.

国際会議録

国際会議録
Muecklich, F. ; Beinstingel, S. ; Arnold, W.
出版情報: Functionally graded materials 1998 : proceedings of the 5th International Symposium on Functionally Graded Materials, held in New Town Hall, Dresden, Germany, October 26-29, 1998.  pp.25-30,  1999.  Uetikon-Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 308-311
4.

国際会議録

国際会議録
Hirsekorn, S. ; Gebhardt, W. ; Arnold, W.
出版情報: Functionally graded materials 1998 : proceedings of the 5th International Symposium on Functionally Graded Materials, held in New Town Hall, Dresden, Germany, October 26-29, 1998.  pp.521-526,  1999.  Uetikon-Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 308-311
5.

国際会議録

国際会議録
Arnold, W. ; Hirsekorn, S. ; Kopycinska, M. ; Rabe, U. ; Reinstaedtler, M. ; Scherer, V.
出版情報: Nondestructive Evaluation and Reliability of Micro- and Nanomaterial Systems.  pp.53-64,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4703