1.

国際会議録
国際会議録
1. Analysis of structural and electrical characteristics of low dose SIMOX
Anc, M.J. ; Allen, L.P. ; McMarr, P.J. ; Mrstik, B.J. ; Hughes, H.L. ; Brothers, C.P.
出版情報: Proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.143-148,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-23
2.

国際会議録
国際会議録
2. Non-deatructive Impulsive Stimulated Thermal Scattering (ISTS) Analysis of SOI defects in SIMOX
Anc, M.J. ; Gostein, M. ; Banet, M. ; Allen, L.P.
出版情報: Silicon-on-Insulator Technology and Devices X : proceedings of the tenth International Symposium.  pp.51-56,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-3
3.

国際会議録
国際会議録
3. Analysis of Microstructural Properties of SIMOX Wafers with Photoluminescence
Higgs, V. ; Anc, M.J.
出版情報: Silicon-on-Insulator Technology and Devices X : proceedings of the tenth International Symposium.  pp.63-68,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-3
4.

国際会議録
国際会議録
4. Perspectives of SIMOX technology
Anc, M.J.
出版情報: Progress in SOI structures and devices operating at extreme conditions.  pp.1-10,  2002.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO science series. Series 2, Mathematics, physics and chemistry
シリーズ巻号: 58