1.

国際会議録

国際会議録
Hofmann,D.M. ; Meyer,B.K. ; Pawlik,T. ; Alteheld,P. ; Spaeth,J.-M.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.417-422,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
2.

国際会議録

国際会議録
Alteheld,P. ; Greulich-Weber,S. ; Spaeth,J.-M. ; Overhofand,H. ; Hohue,M.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.2  pp.1173-1178,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147