1.

国際会議録
国際会議録
1. Micrometer-Scale Machining of Metals and Polymers Enabled by Focused Ion Beam Sputtering
Adams, D.P. ; Benavides, G.L. ; Vasile, M.J.
出版情報: Materials science of microelectromechanical systems (MEMS) devices : symposium held December 1-2, 1998, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.201-206,  1999.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 546
2.

国際会議録
国際会議録
2. Processing Effects on Structure-Property Relationships in Sputter Deposited Thin Gold Films
Moody, N.R. ; Adams, D.P. ; Medlin, D. ; Headley, T. ; Yang, N.
出版情報: THERMEC '2003 : International Conference on Processing & Manufacturing of Advanced Materials, July 7-11, 2003, Leganés, Madrid, Spain.  pp.3403-3408,  2003.  Zuerich-Uetikon, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 426-432
3.

国際会議録
国際会議録
3. Laser Machining With Ultrashort Pulses: Effects of Pulse-Width, Frequency and Energy
Bliss, D.E. ; Adams, D.P. ; Cameron, S.M. ; Luk, T.S.
出版情報: Materials science of microelectromechanical systems (MEMS) devices : symposium held December 1-2, 1998, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.81-84,  1999.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 546
4.

国際会議録
国際会議録
4. The Effects of Copper on the Interfacial Failure of Gold Films
Moody, N.R. ; Adams, D.P. ; Cordill, M.J. ; Yang, N. ; Bahr, D.F.
出版情報: Thin films : stresses and mechanical properties IX : symposium held November 26-30, 2001, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.323-328,  2002.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 695
5.

国際会議録
国際会議録
5. Stress and curvature in MEMS mirrors
Gass, F. R. ; Dagel, D. J. ; Adams, D.P. ; Grossetete, G.D. ; Blum Spahn, O. ; Kemme, S.A. ; Mani, S.S. ; Malloy, K.J.
出版情報: MOEMS and Miniaturized Systems III.  pp.87-93,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4983