1.

国際会議録
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1. Plasmon-resonant nanorods as multimodal agents for two-photon luminescent imaging and photothermal therapy
Progress in biomedical optics and imaging. vol.8, no.25
出版情報: Colloidal quantum dots for biomedical applications II : 20-21, 23 January 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6448
2.

国際会議録
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2. Integration Challenges for Advanced Process-Sfrained CMOS on Biaxial- Strained-SOI (SSOI) Substrates
A. Wei ; S. Duenkel ; R. Boschke ; M. Horstmann
出版情報: Advanced gate stack, source/drain and channel engineering for Si-based CMOS 3 : new materials, processes and equipment.  pp.15-22,  2007.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 6(1)
3.

国際会議録
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3. Effectiveness of Embedded-SiGe in Strained-SOI Substrates and Implications on Embedded-SiGe Stress Transfer Mechanics
A. Wei ; T. Kammler ; I. Cayrefourcq ; J. Höntschel ; A. Mowry
出版情報: SiGe and Ge, materials, processing, and devices.  pp.719-725,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 3(7)
4.

国際会議録
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4. Sidewall Dislocations in Embedded SiGe Source/Drain Areas of MOSFETs and Their Impact on the Device Performance
T. Kammler ; I. Peidous ; A. Wei ; C. Reichel ; S. Heinemann
出版情報: SiGe and Ge, materials, processing, and devices.  pp.713-718,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 3(7)
5.

国際会議録
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5. Backscattering albedo contrast in OCT using plasmon-resonant gold nanorods
A. L. Oldenburg ; M. N. Hansen ; A. Wei ; S. A. Boppart
出版情報: Coherence domain optical methods and optical coherence tomography in biomedicine XI : 22-24 January 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6429
6.

国際会議録
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6. Strained Silicon-On-Insulator - Fabrication and Characterization
M. Reiche ; C. Himcinschi ; U. Gösele ; S. Christiansen ; S. Mantl ; D. Buca ; Q. Zhao ; S. Feste ; R. Loo ; D. Nguyen ; W. Buchholtz ; A. Wei ; M. Horstmann ; D. Feijoo ; P. Storck
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices 13.  pp.339-344,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 6(4)
7.

国際会議録
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7. OPC model data collection for 45-nm technology node using automatic CD-SEM offline recipe creation
D. Fischer ; M. Talbi ; A. Wei ; O. Menadeva ; R. Cornell
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
8.

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8. Reducing capital and labor costs of 193nm lithography monitoring of airborne molecular contamination (AMC) through proactive assessment and implementation of AMC monitoring techniques and strategies
S. Rowley ; J. Yang ; A. Wei
出版情報: Lithography Asia 2008.  1  pp.71400U-1-71400U-9,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7140
9.

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9. The effect of the OPC parameters on the performance of the OPC model
A. Abdo ; A. Seoud ; A. Wei ; I. Stobert ; A. Leslie
出版情報: Photomask technology 2007.  3  pp.673055-1-673055-11,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6730
10.

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10. Plasmon-resonant gold nanorods provide spectroscopic OCT contrast in excised human breast tumors
A. L. Oldenburg ; M. N. Hansen ; A. Wei ; S. A. Boppart
出版情報: Molecular probes for biomedical applications II : 21-22 January 2008, San Jose, California, USA.  pp.68670E-1-68670E-10,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6867