1.

国際会議録
国際会議録
1. Impact of Point Defects on the Luminescence Properties of (Al,Ga)N
S.F. Chichibu ; A. Uedono ; T. Onuma ; S.P. DenBaars ; U.K. Mishra
出版情報: Advances in light emitting materials : special topic volume with invited papers only.  pp.233-248,  2008.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 590
2.

国際会議録
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2. Asymmetric Distribution of Charge Trap in HfO₂-Based High-k Gate Dielectrics
K. Higuchi ; T. Naito ; A. Uedono ; K. Shiraishi ; K. Torii ; M. Boero ; T. Chikyow ; S. Yamosaki ; K. Yamada ; R. Hasumuma ; K. Yamabe
出版情報: Physics and technology of high-k gate dielectrics III.  pp.777-788,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 1(5)
3.

国際会議録
国際会議録
3. Tight Distribution of Dielectric Characteristics of HfSiON in Metal Gate Devices
R. Hasunuma ; T. Naito ; C. Tamura ; A. Uedono ; K. Shiraishi
出版情報: Physics and technology of high-k gate dielectrics 5.  pp.3-11,  2007.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(4)
4.

国際会議録
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4. Role of the Ionicity in Defect Formation in Hf-Based Dielectrics
N. Umezawa ; K. Shiraishi ; S. Miyazaki ; A. Uedono ; Y. Akasaka
出版情報: Physics and technology of high-k gate dielectrics 5.  pp.199-211,  2007.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(4)
5.

国際会議録
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5. Vacancy-Type Defects in MOSFETs with High-κ Gate Dielectrics Probed by Monoenergetic Positron Beams
A. Uedono ; R. Hasunuma ; K. Shiraishi ; K. Yamabe ; S. Inumiya
出版情報: Physics and technology of high-k gate dielectrics 5.  pp.81-90,  2007.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 11(4)
6.

国際会議録
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6. Extensive Studies for Effects of Nitrogen Incorporation into Hf-Based High-k Gate Dielectrics
N. Umezawa ; K. Shiraishi ; H. Watanabe ; K. Toni ; Y. Akasaka ; S. Inumiya ; M. Boero ; A. Uedono ; S. Miyazaki ; T. Ohno ; T. Chikyow ; K. Yamabe ; Y. Nara ; K. Yamada
出版情報: Dielectrics for nanosystems II: materials science, processing, reliability, and manufacturing.  pp.63-78,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 2(1)