1.

国際会議録
国際会議録
1. Degradation of Charge Collection Efficiency Obtained for 6H-SiC n+p Diodes Irradiated with Gold Ions
T. Ohshima ; T. Satoh ; M. Oikawa ; S. Onoda ; S. Hishiki ; T. Hirao ; T. Kamiya ; T. Yokoyama ; A. Sakamoto ; R. Tanaka ; I. Nakano ; G. Wagner ; H. Itoh
出版情報: Silicon carbide and related materials 2006 : ECSCRM 2006, Proceedings of the 6th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, Newcastle upon Tyne, UK, September 2006.  pp.913-916,  2007.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 556-557
2.

国際会議録
国際会議録
2. Chemical Mechanical Polishing of SiCOH-Based Low-k Dielectrics
W. Tseng ; A. Sakamoto ; S. Ponoth ; D. Hong ; L. Economikos ; S. Vogt ; A. Ticknor ; S. Cohen ; M. Krishnan ; R. Wanner ; B. Kim
出版情報: Dielectrics for nanosystems II: materials science, processing, reliability, and manufacturing.  pp.227-236,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 2(1)
3.

国際会議録
国際会議録
3. Biaxial measurement of optical frequency domain reflectometry using polarization maintaining fiber Bragg grating
K. Omich ; A. Sakamoto ; S. Hirafune ; T. Sakai ; H. Murayama
出版情報: 19th International Conference on Optical Fibre Sensors.  1  pp.70042A-1-70042A-4,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7004