1.
国際会議録 |
J. Leon ; A. R. Vaz ; A. Flacker ; S. A. Moshkalev ; M. B. de Moraes ; J. W. Swart
|
|||||||
2.
国際会議録 |
2. The Effect of Si-Substrate on the Optical Characterization of Ge Nanostructures Obtained by LPCVD
S. N. Mestanza ; E. Rodriquez ; I. Doi ; A. R. Vaz ; N. C. Frateschi
|
|||||||
3.
国際会議録 |
M. M. da Stiva ; A. R. Vaz ; S. A. Moshkalev ; J. W. Swart
|