1.

国際会議録
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1. Independent component analysis for remote sensing study
Chen,C.H. ; Zhang,X.
出版情報: Image and signal processing for remote sensing V : 22-24 September 1999, Florence, Italy.  pp.150-158,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3871
2.

国際会議録
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2. Measurement of roughness of optical surface by focal plane CCD camera
Li,J. ; Li,X. ; Ying,A. ; Zao,A. ; Zhang,X.
出版情報: Flatness, roughness, and discrete defects characterization for computer disks, wafers, and flat panel displays II : 29-30 January 1998, San Jose, California.  pp.84-87,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3275
3.

国際会議録
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3. Recent advances in III-nitride materials: characterrization and device applications (Invited Paper)
Razeghi,M. ; Zhang,X. ; Kung,P. ; Saxier,A. ; Walker,D. ; Lim,K. Y. ; Kim,K. S.
出版情報: Solid state crystals in optoelectronics and semiconductor technology : 7-11 October 1996, Zakopane, Poland.  pp.2-11,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3179
4.

国際会議録
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4. New Developments in III-Nitride Material and Device Applications
Razeghi,M. ; Saxler,A. ; Kung,P. ; Walker,D. ; Zhang,X. ; Kim,K.S. ; Vydyanath,H.R. ; Solomon,J. ; Ahoujja,M. ; Mitchel,W.C.
出版情報: Physics of - Semiconductor Devices -.  Part 1  pp.277-284,  1998.  New Delhi.  Narosa Publishing House
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3316
5.

国際会議録
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5. Scheduling all-to-all connections in WDM rings
Qiao,C. ; Zhang,X. ; Zhou,L.
出版情報: All-optical communication systems: architecture, control, and network issues II : 20-21 November, 1996, Boston, Massachusetts.  pp.218-229,  1996.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2919
6.

国際会議録
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6. Optical and structural characteristics of lnGaAsIGaAs strained-layer superlattice
Li,M. ; Li,X. ; Song,X. ; Ge,Z. ; Zhang,X.
出版情報: Current developments in optical elements and manufacturing : 16-18 September 1998, Beijing, China.  pp.64-66,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3557
7.

国際会議録
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7. Population inversion in asymmetrical step quantum wells and infrared intersubband lasers
Zhang,X. ; Sung,C.Y. ; Norris,T.B. ; Haddad,G.I.
出版情報: Quantum well and superlattice physics VI : 29-30 January 1996, San Jose, California.  pp.19-27,  1996.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2694
8.

国際会議録
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8. New subjective evaluation on optical image quality
Li,J. ; Li,X. ; Ying,A. ; Zao,A. ; Zhang,X.
出版情報: New image processing techniques and applications : algorithms, methods, and components II : 18-19 June 1997, Munich, FRG.  pp.156-160,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3101
9.

国際会議録
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9. Efficient light-emitting diodes from blends of conjugated polymers
Zhang,X. ; Shetty,A.S. ; Jenekhe,S.A.
出版情報: Organic light-emitting materials and devices : 30 July-1 August 1997, San Diego, California.  pp.89-101,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3148
10.

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10. Frequency analysis for roughness of optical surface by focal plane CCD camera
Li,J. ; Ying,A. ; Li,X. ; Zhang,X. ; Zao,A.
出版情報: Sensors, sensor systems, and sensor data processing : June 16-17 1997, Munich, FRG.  pp.396-399,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3100