1.

国際会議録
国際会議録
1. Optical Characterization of Deep Level Defects in SiC
Magnusson, B. ; Janzen, E.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2004 : ECSCRM 2004 : proceedings of the 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, August 31 - September 4 2004, Bologna, Italy.  pp.341-346,  2005.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 483-485
2.

国際会議録
国際会議録
2. Nonequilibrium Carrier Diffusion and Recombination in Heavily-Doped and Semi-Insulating Bulk HTCVD Grown 4H-SiC Crystals
Storasta, L. ; Aleksiejunas, R. ; Sudzius, M. ; Kadys, A. ; Malinauskas, T. ; Jarasiunas, K. ; Magnusson, B. ; Janzen, E.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2004 : ECSCRM 2004 : proceedings of the 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, August 31 - September 4 2004, Bologna, Italy.  pp.409-412,  2005.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 483-485
3.

国際会議録
国際会議録
3. Observation of Vacancy Clusters in HTCVD Grown SiC
Aavikko, R. ; Saarinen, K. ; Magnusson, B. ; Janzen, E.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2004 : ECSCRM 2004 : proceedings of the 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, August 31 - September 4 2004, Bologna, Italy.  pp.469-472,  2005.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 483-485