1.

国際会議録
国際会議録
1. Defect Studies in Semiconductors
Fujinami, M. ; Sawada, T. ; Akahane, T.
出版情報: Positron annihilation, ICPA-12 : Proceedings of the 12th International Conference on Positron Annihilation, August 6-12, 2000, München, Germany.  pp.52-55,  2001.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 363-365
2.

国際会議録
国際会議録
2. Defect Study on Si Implanted with B and BF2 Ions by Coincidence Doppler Broadening Measurements
Akahane, T. ; Fujinami, M. ; Ohnishi, K. ; Sawada, T.
出版情報: Positron annihilation, ICPA-12 : Proceedings of the 12th International Conference on Positron Annihilation, August 6-12, 2000, München, Germany.  pp.469-471,  2001.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 363-365