1.

国際会議録
国際会議録
1. Technique and application of infrared thermal radiometry in scanning electron microscope
J. Yin ; Z. Wu ; S. Zhu ; W. Gao
出版情報: Second International Conference on Optoelectronic Science and Engineering '94 : 15-18 August 1994, Beijing, China.  pp.749-752,  1994.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2321
2.

国際会議録
国際会議録
2. Stability analysis of Voigt profiles
S. Xu ; S. Lin ; F. Chen ; Z. Wu
出版情報: Second International Conference on Optoelectronic Science and Engineering '94 : 15-18 August 1994, Beijing, China.  pp.152-154,  1994.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2321
3.

国際会議録
国際会議録
3. Epitaxial growth of optical LiTaO3 and LiNbO3 waveguide film by pulsed-laser deposition
J. Liu ; Z. Liu ; S. Zhu ; Z. Wu ; M. Zhang
出版情報: Second International Conference on Thin Film Physics and Applications : '94 TFPA : 15-17 April 1994, Shanghai, China.  pp.368-372,  1994.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2364
4.

国際会議録
国際会議録
4. Automated measurement of scattering intensity
X. Han ; Z. Wu ; X. Zhang
出版情報: Infrared technology XXI : 9-13 July 1995, San Diego, California.  pp.531-537,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2552
5.

国際会議録
国際会議録
5. Temperature dependence of light-induced scattering in a Ce:Fe:LiNbO3 photorefractive crystal
F. Zhao ; H. Zhou ; Z. Wu ; F.T.S. Yu ; D.K. McMillen
出版情報: Photorefractive fiber and crystal devices : materials, optical properties, and applications : 12-13 July, 1995, San Diego, California.  pp.29-38,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2529