1.

国際会議録

国際会議録
Skrotzki, W. ; Wendt, H. ; Carter, C. B. ; Kohlstedt, D. L.
出版情報: Thin films and interfaces II : symposium held November 1983, in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.299-304,  1984.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 25
2.

国際会議録

国際会議録
Wendt, H. ; Ostyn, K. M. ; Carter, C. B.
出版情報: Defect properties and processing of high-technology nonmetallic materials : symposium held November 1983 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.87-100,  1984.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 24
3.

国際会議録

国際会議録
Cerva, H. ; Wendt, H.
出版情報: Characterization of the structure and chemistry of defects in materials : symposium held November 28-December 3, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.533-538,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 138
4.

国際会議録

国際会議録
Hofmann, H. ; Fischer, J. ; Wendt, H.
出版情報: AIChE ANNUAL MEETING, NEW YORK, NY - NOVEMBER 15-20, 1987.  1987.  New York.  American Institute of Chemical Engineers
シリーズ名: AIChE meeting [papers]
シリーズ巻号: 1987
5.

国際会議録

国際会議録
Skrotski, W. ; Wendt, H. ; Carter, C. B. ; Kholstedt, D. L.
出版情報: Advanced photon and particle techniques for the characterization of defects in solids : symposium held November 27-29, 1984, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.261-268,  1985.  Pittsburgh.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 41
6.

国際会議録

国際会議録
Bitterlich, S. ; Wendt, H.
出版情報: AIChE ANNUAL MEETING, NEW YORK, NY - NOVEMBER 15-20, 1987.  1987.  New York.  American Institute of Chemical Engineers
シリーズ名: AIChE meeting [papers]
シリーズ巻号: 1987