1.

国際会議録
国際会議録
1. Low Temperature Deposition of Polycrystalline Lithium Transition Metal Oxide Thin Films for Micro Batteries
K. Chiu ; C. Chen ; P. Chen ; W. Ho
出版情報: Micro Power Sources.  pp.1-9,  2009.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 16(26)
2.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
2. A Review of Ablation Modeling for Thermal Protection Systems
J. Koo ; W. Ho ; O. Ezekoye
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2006.  Reston, Va.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA/ASME/SAE/ASEE Joint Propulsion Conference and Exhibit
シリーズ巻号: 2006
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. A Review of Numerical and Experimental Characterization of Thermal Protection Materials Part II: Properties Characterization
J. Koo ; W. Ho ; M. Bruns ; O. Ezekoye
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2007.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA/ASME/ASCE/AHS/ASC Structures, Structural Dynamics, and Materials Conference
シリーズ巻号: 2007
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. Experimental Characterization of Thermoplastic Polyurethane Nanocomposite under Extreme Conditions
K. Nguyen ; J. Koo ; W. Ho ; M. Bruns ; O. Ezekoye
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2007.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA/ASME/SAE/ASEE Joint Propulsion Conference and Exhibit
シリーズ巻号: 2007
5.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
5. A Review of Numerical and Experimental Characterization of Thermal Protection Materials: Part III - Material Testing
J. Koo ; W. Ho ; M. Bruns ; O. Ezekoye
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2007.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA/ASME/SAE/ASEE Joint Propulsion Conference and Exhibit
シリーズ巻号: 2007
6.

国際会議録
国際会議録
6. Real-time spatial control of photoresist development rate
A. Tay ; W. Ho ; N. Hu ; C. Kiew ; K. Tsai
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518