1.

国際会議録
国際会議録
1. SURFACE STUDIES OF SILICON WITH A HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
Gibson, J.M. ; McDonald, M.L. ; Unterwald, F.C. ; Gossmann, H.-J. ; Bean, J.C. ; Tung, R.T.
出版情報: Layered structures and epitaxy : symposium held December 2-4, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.39-42,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 56
2.

国際会議録
国際会議録
2. ELECTRICAL TRANSPORT AND IN-SITU X-RAY STUDIES OF THE FORMATION OF TiSi2 THIN FILMS ON Si
Hensel, J.C. ; Vandenberg, J.M. ; Mattheiss, L.F. ; Unterwald, F.C. ; Maury, A.
出版情報: Interfaces, superlattices, and thin films : symposium held December 1-6, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.737-742,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 77