1.

国際会議録
国際会議録
1. Grain Boundary Conductivities of 0.58% Y2O3 Doped CeO2 Thin Films
Tian, C. ; Chan, S-W.
出版情報: Solid state ionics V : symposium held November 28-December 3, 1998, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.629-634,  1999.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 548
2.

国際会議録
国際会議録
2. Ionic Conductivities and Microstructures of CeO2:Y2O3 Solid Electrolytes
Tian, C. ; Chan, S-W.
出版情報: Solid state ionics V : symposium held November 28-December 3, 1998, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.623-628,  1999.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 548
3.

国際会議録
国際会議録
3. SIMULATION OF BURIED LAYER EXPERIMENTS CONTAIN- ING ALL FOUR DOPANT SPECIES
Ghaderi, K. ; Hobler, G. ; Budil, M. ; Poetzl, H. ; Pichler, P. ; Ryssel, H. ; Hansch, W. ; Eisele, I. ; Tian, C. ; Stingeder, G.
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.613-624,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-10