1.

国際会議録
国際会議録
1. Environmental and Stress State Effects on Fracture and Fatigue Crack-Growth in Zr-Ti-Ni-Cu-Be Bulk Amorphous Metals
Flores, K. M. ; Suh, D. ; Dauskardt, R. H.
出版情報: Bulk metallic glasses : symposium held December 1-3, 1998, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.355-,  1999.  Warrendale, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 554
2.

国際会議録
国際会議録
2. Device/Circuit modeling and simulation applied to design of Deep-Submicron SOI CMOS technology
Fossum, J.G. ; Yeh, P.C. ; Suh, D. ; Krishnan, S.
出版情報: Proceedings of the Sixth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.447-452,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-11
3.

国際会議録
国際会議録
3. Chemistry and Manufacturing Requirements of X-ray Resists
Taylor, J. W. ; Babcock, C. ; Sullivan, M. ; Suh, D. ; Plumb, D.
出版情報: Radiation effects on polymers.  pp.310-,  1991.  Washington, D.C..  American Chemical Society
シリーズ名: ACS symposium series
シリーズ巻号: 475