1.

国際会議録
国際会議録
1. THE STRUCTURE OF THERMAL DONORS (NL8) IN SILICON: A MODEL DERIVED FROM 17O AND 29Si ENDOR EXPERIMENTS
Michel, J. ; Niklas, J. R. ; Spaeth, J. -M.
出版情報: Defects in electronic materials : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.185-188,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 104
2.

国際会議録
国際会議録
2. *ENDOR SPECTROSCOPY ON DEEP LEVEL DEFECTS IN GaAs
Spaeth, J. -M. ; Gorger, A. ; Hofmann, D. M. ; Meyer, B. K.
出版情報: Defects in electronic materials : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.363-374,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 104