1.

国際会議録

国際会議録
Wimmer,A. ; Ruppert,G.S. ; Sidla,O. ; Konrad,H. ; Gretzmacher,F.M.
出版情報: Targets and backgrounds VI : characterization, visualization, and the detection process : 24-26 April 2000, Orlando, USA.  pp.81-87,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4029
2.

国際会議録

国際会議録
Sidla,O. ; Wilding,E. ; Niel,A. ; Barg,H.
出版情報: Machine vision and three-dimensional imaging systems for inspection and metrology : 6-8 November 2001 [i.e. 2000], Boston, USA.  pp.248-257,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4189