1.

国際会議録

国際会議録
Y. Yang ; N. Jiang ; S. Cheng ; Y. Li
出版情報: Geoinformatics 2007, Geospatial information science : 25-27 May 2007, Nanjing, China.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6753
2.

国際会議録

国際会議録
S. Cheng ; C. Huang ; G. Chen ; G. J. Conibeer
出版情報: Micro- and nanotechnology : materials, processes, packaging, and systems III : 11-13 December 2006, Adelaide, Australia.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6415
3.

国際会議録

国際会議録
S. Cheng ; Y. Yang ; Y. Li
出版情報: Geoinformatics 2007, Remotely sensed data and information : 25-27 May 2007, Nanjing, China.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6752
4.

国際会議録

国際会議録
M. Chen ; S. Cheng ; F. Wang ; J. Lee ; Y. Tai
出版情報: Solid oxide fuel cells 10 (SOFC-X).  pp.2245-2252,  2007.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 7(1)
5.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Q. Shen ; F. Guan ; S. Cheng ; N. Zhu ; F. Chen ; D. Qu, ; Z. Li
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : International Space Planes and Hypersonic Systems and Technologies Conference
シリーズ巻号: 2008
6.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
S. Cheng ; V. Cheng ; Y. Seo ; L. Martin ; S. Verma ; D. Ballinger
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2007.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA Modeling and Simulation Technologies Conference
シリーズ巻号: 2007
7.

国際会議録

国際会議録
P. Leray ; G. F. Lorusso ; S. Cheng ; N. Collaert ; M. Jurczak ; S. Shirke
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
8.

国際会議録

国際会議録
T. Ishimoto ; K. Sekiguchi ; N. Hasegawa ; T. Maeda ; K. Watanabe ; G. Storms ; D. Laidler ; S. Cheng
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
9.

国際会議録

国際会議録
K. D'have ; T. Machida ; D. Laidler ; S. Cheng
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
10.

国際会議録

国際会議録
M. Dusa ; J. Quaedackers ; O. F. A. Larsen ; J. Meessen ; E. van der Heijden ; G. Dicker ; O. Wismans ; P. de Haas ; K. van I. Schenau ; J. Finders ; B. Vleeming ; G. Storms ; P. Jaenen ; S. Cheng ; M. Maenhoudt
出版情報: Optical microlithography XX.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6520