1.

国際会議録
国際会議録
1. IN SITU SUBSTRATE TEMPERATURE MEASUREMENT DURING MBE BY BAND-EDGE REFLECTION SPECTROSCOPY
Roth, J. A. ; Lyon, T. J. de ; Adel, M. E.
出版情報: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing : Symposium held November 29-December 2, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.353-,  1994.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 324
2.

国際会議録
国際会議録
2. Direct heteroepitaxial growth of ZnTe(100) and CdZnTe(100)/ZnTe(100) on Si(100) substrates by MBE
Lyon, T. J. de ; Johnson, S. M. ; Cockrum, C. A. ; Wu, O. K. ; Roth, J. A.
出版情報: Semiconductors for room-temperature radiation detector applications : symposium held April 12-16, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.445-,  1993.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 302