1.

国際会議録

国際会議録
Rotge,J.R. ; Marker,D.K. ; Lutz,B. ; Duneman,D.
出版情報: High-resolution wavefront control : methods, devices, and applications III : 1-3 August 2001, San Diego, USA.  pp.207-211,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4493
2.

国際会議録

国際会議録
Marker,D.K. ; Patrick,B. ; Rotge,J.R. ; Gierow,P.
出版情報: High-resolution wavefront control : methods, devices, and applications III : 1-3 August 2001, San Diego, USA.  pp.212-215,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4493
3.

国際会議録

国際会議録
Rotge,J.R. ; Dass,S.C. ; Marker,D.K. ; Carreras,R.A. ; Lutz,B. ; Dureman,D.C.
出版情報: Imaging Technology and Telescopes.  pp.74-82,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4091
4.

国際会議録

国際会議録
Voeiz,D.G. ; Sellers,J. ; Hanes,S. ; Rotge,J.R. ; Shargorodsky,V. ; Shevchenko,V. ; Vasiliev,V. ; Burmistov,V.A.
出版情報: Imaging Technology and Telescopes.  pp.278-282,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4091