1.

国際会議録
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1. Characterization of point defects in semi-insulating InP:Fe by high-resolution photoinduced transient spectroscopy
Kozlowski, R. ; Kaminski, P. ; Pawlowski, M.
出版情報: Solid State Crystals 2002: Crystalline Materials for Optoelectronics.  pp.53-58,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5136
2.

国際会議録
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2. Laplace transform photoinduced transient spectroscopy: a new powerful tool for defect characterization in semi-insulating materials
Pawlowski, M. ; Kaminski, P. ; Kozlowski, R. ; Miczuga, M.
出版情報: Solid State Crystals 2002: Crystalline Materials for Optoelectronics.  pp.59-65,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5136
3.

国際会議録
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3. Three-dimensional data acquisition and processing for virtual reality applications (Invited Paper)
Kujawinska, M. ; Sitnik, R. ; Pawlowski, M. ; Garbat, P. ; Wegiel, M.
出版情報: Interferometry XI: Applications.  pp.35-47,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4778
4.

国際会議録
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4. Spatio-spectral digital holography for full-field tomographic imaging with adaptive focusing
Pawlowski, M. ; Sakano, Y. ; Miyamoto, Y. ; Takeda, M. ; Obayashi, K.
出版情報: Interferometry XII: Techniques and Analysis.  pp.121-126,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5531