1.

国際会議録
国際会議録
1. Interpretation of the Electric Field Dependent Thermal Emission Data of Deep Traps
Pavelka,T. ; Ferenczi,G.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part2  pp.803-808,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
2.

国際会議録
国際会議録
2. Temperature Dependence of the Capture Cross Section of Seo as Measured by Microwave Absorption Spectroscopy(MAS)
Pavelka,T. ; Hemm,B.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.469-472,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41