1.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Obayashi, K. ; Tani, K.
出版情報: 2004 SAE world congress : technical paper.  2004.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2004
2.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Watanabe, T. ; Onaga, M. ; Hirayama, S. ; Obayashi, K. ; Okabe, T.
出版情報: 2006 SAE world congress : technical paper.  2006.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2006
3.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Hirayama, Sh. ; Umakoshi, T. ; Morimoto, T. ; Obayashi, K. ; Okabe, T.
出版情報: 2005 SAE world congress : technical paper.  2005.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2005
4.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Obayashi, K. ; Tani, K. ; Fujitsuna, M.
出版情報: 2006 SAE world congress : technical paper.  2006.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2006
5.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Kawabe, Y. ; Kondo, T. ; Hirayama, S. ; Obayashi, K. ; Okabe, T.
出版情報: 2005 SAE world congress : technical paper.  2005.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2005
6.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Kawabe, Y. ; Kondo, T. ; Musuda, D. ; Mogi, T. ; Obayashi, K.
出版情報: 2004 SAE world congress : technical paper.  2004.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2004
7.

国際会議録

国際会議録
Amano, T. ; Hiro-Oka, H. ; Choi, D. ; Furukawa, H. ; Kano, F. ; Takeda, M. ; Nakanishi, M. ; Shimizu, K. ; Obayashi, K.
出版情報: Interferometry XII: Techniques and Analysis.  pp.375-382,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5531
8.

国際会議録

国際会議録
Pawlowski, M. ; Sakano, Y. ; Miyamoto, Y. ; Takeda, M. ; Obayashi, K.
出版情報: Interferometry XII: Techniques and Analysis.  pp.121-126,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5531