1.

国際会議録
国際会議録
1. Thickness Determination of Ultra-Thin SiO2 Films on Si by Spectroscopic Ellipsometry
Nguyen, N.V. ; Richter, C.A.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Silicon Nitride and Silicon Dioxide Thin Insulating Films.  pp.183-193,  1997.  Pennington, New Jersey.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-10
2.

国際会議録
国際会議録
2. CHARACTERIZATION OF THE ZnSe/GaAs INTERFACE LAYER BY TEM AND SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY
Dahmani, R. ; Salamanca-Riba, L. ; Beesabathina, D.P. ; Nguyen, N.V. ; Chandler-Horowitz, D. ; Jonker, B.T.
出版情報: Evolution of surface and thin film microstructure : symposium held November 30-December 4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.271-274,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 280