1.

国際会議録
国際会議録
1. High-Resolution X-ray Diffraction of GaN Grown on Sapphire Substrates
Saxler, A. ; Capano, M. A. ; Mitchel, W. C. ; Kung, P. ; Zhang, X. ; Walker, D. ; Razeghi, M.
出版情報: III-V nitrides : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.477-,  1997.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 449
2.

国際会議録
国際会議録
2. Imaging of Micropipes in Silicon Carbide Under High Field Stress
Gradinaru, G. ; Helmi, M. ; Khlebnikov, Y. ; Korony, G. ; Mitchel, W. C. ; Sudarshan, T. S.
出版情報: Defects in electronic materials II : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.643-,  1997.  Pittsburgh, Penn.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 442