1.

国際会議録
国際会議録
1. Optical pattern communication based on imaging optics [5892-59]
Pan, W. ; Liu, L. ; Lu, W.
出版情報: Free-space laser communications V : 31 July-2 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.58921L-,  2005.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5892
2.

国際会議録
国際会議録
2. Real-time electron counting studies on charge fluctuations in a semiconductor quantum dot (Invited Paper)
Lu, W.
出版情報: Fluctuations and noise in materials II : 24-25 May, 2005, Austin, Texas, USA.  pp.124-140,  2005.  Bellingham, Washington.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5843
3.

国際会議録
国際会議録
3. Real-time electron counting in semiconductor nanostructures
Rimberg, A. J. ; Thalakulam, M. ; Lu, W. ; Ji, Z. ; Pfeiffer, L. N. ; West, K. W.
出版情報: Terahertz for military and security applications III : 28-29 March 2005, Orlando, Florida, USA.  pp.254-262,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5790
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. Differential Flatness and Flight Guidance: A Neural Adaptive Approach
Lu, W. ; Mora-Camino, F. ; Achaibou, K.
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2005.  [Reston, Va.].  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA Guidance Navigation and Control Conference
シリーズ巻号: 2005
5.

国際会議録
国際会議録
5. Fetal head detection and measurement in ultrasound images by a direct inverse randomized Hough transform
Lu, W. ; Tan, J. ; Floyd, R. C.
出版情報: Medical Imaging 2005: Image Processing.  pp.715-722,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5747
6.

国際会議録
国際会議録
6. Growth of carbon nanotubes by sublimation of silicon carbide substrates (Invited Paper)
Mitchel, W.C. ; Boeckl, J. ; Tomlin, D. ; Lu, W. ; Rigueur, J. ; Reynolds, J.
出版情報: Quantum Sensing and Nanophotonic Devices II.  pp.77-83,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5732