1.

国際会議録
国際会議録
1. LOW ENERGY PHOTOELECTRON HOLOGRAPHY ON GaAs
Denecke, R. ; Eckstein, R. ; Ley, L. ; Bocquet, A. ; Riley, J. ; Leckey, R.
出版情報: Atomic-scale imaging of surfaces and interfaces : symposium held November 30-December 2, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.219-224,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 295
2.

国際会議録
国際会議録
2. SIGNATURE OF THE WEAK BOND-DANGLING BOND CONVERSION PROCESS IN a-Si:H AS SEEN BY TOTAL PHOTOELECTRON YIELD SPECTROSCOPY
Graf, W. ; Leihkamm, K. ; Ristein, J. ; Ley, L.
出版情報: Amorphous silicon technology, 1993 : Symposium held April 13-16, San Francisco, California, U.S.A..  pp.207-212,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 297