1.

国際会議録
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1. Novel antireflective structure for metal layer patterning
Choi,S.-S. ; Cha,H.S. ; Kim,J.-S. ; Park,J.M. ; Kim,D.H. ; Lee,K.H. ; Ahn,J. ; Chung,H.B. ; Kim,B.W.
出版情報: Advances in resist technology and processing XV : 23-25 February 1998, Santa Clara, California.  Part 1  pp.336-346,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3333
2.

国際会議録
国際会議録
2. Design of illumination aperture for ArF exposure system with wide exposing latitude
Choi,S.-S. ; Cha,H.S. ; Kim,J.-S. ; Lee,K.H. ; Kim,D.H. ; Chung,H.B. ; Kim,D.Y.
出版情報: Optical microlithography XII : 17-19 March 1999, Santa Clara, California.  Part2  pp.792-799,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3679
3.

国際会議録
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3. Alignment system for ArF excimer-laser-based step-and-scan system
Kim,D.H. ; Kim,J.S. ; Sohn,Y.J. ; Kwon,J.H. ; Lee,K.H. ; Choi,S.-S. ; Chung,H.B. ; Yoo,H.J. ; Kim,B.W.
出版情報: Optical microlithography XI : 25-27 February 1998, Santa Clara, California.  pp.958-970,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3334
4.

国際会議録
国際会議録
4. Design of illumination system for ArF excimer laser step-and-scanner
Lee,K.H. ; Kim,D.H. ; Kim,J.S. ; Choi,S.-S. ; Chung,H.B. ; Yoo,H.J. ; Kim,B.W.
出版情報: Optical microlithography XI : 25-27 February 1998, Santa Clara, California.  pp.997-1004,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3334
5.

国際会議録
国際会議録
5. Portable and inexpensive diode laser/fiber optic spectrometer and its application to the determination of ammonia in environmental samples
Kim,S.H. ; Noh,Y.S. ; Byun,G.S. ; Lee,K.H. ; Seo,D.S.
出版情報: Chemical, biochemical, and environmental fiber sensors X : 2-3 November 1998, Boston, Massachusetts.  pp.91-96,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3540
6.

国際会議録
国際会議録
6. Microstructural Investigation of Grain Boundary Diffusion and Recrystallization in W-Cu Composites
Lee,J.S. ; Kim,T.H. ; Lee,K.H.
出版情報: Intergranular and interphase boundaries in materials : iib92 : proceedings of the 6th International Congress, Thessaloniki, Greece, June 21-26, 1992.  pp.399-402,  1993.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 126-128
7.

国際会議録
国際会議録
7. Temperature Dependent Top Layer Composition of Pd on Cu(100)
Koymen,A.R. ; Lee,K.H. ; Yang,G. ; Zhou,H. ; Weiss,A.
出版情報: Positron annihilation : Proceedings of the 9th International Conference on Positron Annihilation, August 26-31, 1991, Szombathely, Hungary.  Pt.3  pp.1411-1414,  1992.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 105-110
8.

国際会議録
国際会議録
8. Positron Annihilation Induced Auger Electron Emission from Polycrystalline Fe,Cu,Pd and Au
Lee,K.H. ; Koymen,Ali R. ; Mehl,D. ; Jensen,K.O. ; Weiss,A.
出版情報: Positron annihilation : Proceedings of the 9th International Conference on Positron Annihilation, August 26-31, 1991, Szombathely, Hungary.  Pt.3  pp.1415-1418,  1992.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 105-110
9.

国際会議録
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9. Investigation of Positron States at the Cs/Cu(100)Surface Using Positron Annihilation Induced Auger Electron Spectroscopy(PAES)
Koymen,A.R. ; Lee,K.H. ; Mehl,D. ; Weiss,A.
出版情報: Positron annihilation : Proceedings of the 9th International Conference on Positron Annihilation, August 26-31, 1991, Szombathely, Hungary.  Pt.3  pp.1407-1410,  1992.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 105-110
10.

国際会議録
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10. Impact of nitrogen ion implantation on deep submicron SALICIDE process
Lim,C.W, ; Lahiri,S.K. ; Tung,C.H. ; Wong,S.M. ; Lee,K.H. ; Wong,H. ; Pey,K.L. ; Chan,L.H.
出版情報: Microelectronic Device Technology : 1-2 October 1997, Austin, Texas.  pp.151-161,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3212