1.

国際会議録
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1. A Novel Method for Studying Degradation Related to Plasma Processing of Silicon Wafers
Lagowski, J. ; Hoff, A. ; Jastrzebski, L. ; Edelman, P. ; Esry, T.
出版情報: Materials reliability in microelectronics VI : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.437-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 428
2.

国際会議録
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2. A New, Real-Time Method for Measuring Mobile Charge and Injected Charge in SiO2 on Si
Edelman, P. ; Lagowski, J. ; Savchouk, A. ; Hoff, A. ; Jastrzebski, L. ; Persson, E.
出版情報: Materials reliability in microelectronics VI : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.443-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 428
3.

国際会議録
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3. Enhanced Hydrogenation Due to Ultrasound Treatment in Polycrystalline Silicon: New Approach to Thin Film Defect Engineering
Ostapenko, S. ; Henley, W. ; Karimpanakkel, S. ; Jastrzebski, L. ; Lagowski, J.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.405-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
4.

国際会議録
国際会議録
4. Improvement of Polysilicon Thin Films and Thin-Film Transistors Using Ultrasound Treatment
Ostapenko, S. ; Jastrzebski, L. ; Lagowski, J. ; Smeltzer, R. K.
出版情報: Flat panel display materials II : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.201-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 424
5.

国際会議録
国際会議録
5. Surface Photovoltage Characterization of Low Temperature Annealed LPCVD Silicon on Glass
Sen, S. ; Hoff, A.M. ; Moradi, B. ; Lagowski, J. ; Jastrzebski, L.
出版情報: Proceedings of the Second Symposium on Thin Film Transistor Technologies.  pp.269-278,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-35
6.

国際会議録
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6. Analysis of Hydrogenation in Thin Film Polycrystalline Silicon Using Surface Photovoltage Measurement Technique
Henley, W. ; Ostepenko, S. ; Karimpanakkel, S. ; Jastrzebski, L. ; Lagowski, J.
出版情報: Proceedings of the Second Symposium on Thin Film Transistor Technologies.  pp.265-268,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-35
7.

国際会議録
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7. Enhanced Hydrogenation of Interface Bulk and Surface Traps in Polycrystalline Silicon Thin Films Subjected to Ultrasound Treatment
Ostapenko, S. ; Karimpanakkel, S. ; Jastrzebski, L. ; Lagowski, J.
出版情報: Proceedings of the Second Symposium on Thin Film Transistor Technologies.  pp.61-67,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-35
8.

国際会議録
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8. Whole-Wafer Plasma Damage Evaluation
Hoff, A.M. ; Lagowski, J. ; Nauka, N. ; Esry, T.C. ; Edelman, P. ; Jastrzebski, L.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.544-553,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13