1.

国際会議録
国際会議録
1. Reliability of Lead Free BGA Packages
Prasad,Swaminath ; Carson,Flynn ; Kim,G.S. ; Lee,J.S. ; Jeong,T.S. ; Kim,Y.S.
出版情報: Proceedings : 2000 International Symposium on Microelectronics, September 20-22, 2000, Hynes Convention Center, Boston, Massachusetts.  pp.722-726,  2000.  Reston, VA.  IMAPS
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4339
2.

国際会議録
国際会議録
2. Formation and Annihilation of Epitaxial Stacking Faults Generated from Pre-Existing Nucleation Sites in Silicon
Cho,C.R. ; Noh,K.Y. ; Lee,D.H. ; Kim,Y.S. ; Ko,S.W. ; Kim,C.W. ; Kim,D.H. ; Son,C.B. ; Kim,S.J. ; Cho,D.H. ; Choi,J.J. ; Kim,D.J. ; Bae,K.M. ; Rozgonyi,G.A.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.201-208,  2000.  Pennington, N.J., Bellingham, Wash..  Electrochemical Society — SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4218
3.

国際会議録
国際会議録
3. New development of cost-effective sub-0.18-ｦﾌm lithography with i-line
Chung,H.-S. ; Jung,J.-H. ; Kim,Y.S. ; Choi,K.-S. ; Yoo,N.H. ; Yoon,S. ; Park,J.-E.
出版情報: Advances in resist technology and processing XVII : 28 February - 1 March 2000, Santa Clara, USA.  Part1  pp.499-504,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3999
4.

国際会議録
国際会議録
4. Overview of the radiometric calibration of MOBY
Clark,D.K. ; Feinholz,M.E. ; Yarbrough,M.A. ; Johnson,B.C. ; Brown,S.W. ; Kim,Y.S. ; Barnes,R.A.
出版情報: Earth observing systems VI : 1-3 August 2001, San Diego, USA.  pp.64-76,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4483