1.

国際会議録

国際会議録
Lee,J. ; Chun,J. ; Kim,J. ; Choi,P. ; Yun,J.C. ; Lee,S.J. ; Lee,J.H.
出版情報: Advanced signal processing algorithms, architectures, and implementations XI : 1-3 August, 2001, San Diego, [Calif.] USA.  pp.376-383,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4474
2.

国際会議録

国際会議録
Jwa,H. ; Chun,J. ; Kim,J. ; Oh,H. ; Kyeong,M.
出版情報: Advanced signal processing algorithms, architectures, and implementations XI : 1-3 August, 2001, San Diego, [Calif.] USA.  pp.393-400,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4474
3.

国際会議録

国際会議録
Liu,S. ; Kim,J. ; Kuo,C.-C.J.
出版情報: Applications of digital image processing XXIV : 31 July - 3 August 2001, San Diego, USA.  pp.402-412,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4472
4.

国際会議録

国際会議録
Kang,Y.K. ; Kim,J. ; Choi,S.-B.
出版情報: Smart structures and materials 2001 : damping and isolation : 5-7 March, 2001, Newport Beach, USA.  pp.480-486,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4331
5.

国際会議録

国際会議録
Whang,Y. ; Jung,C. ; Kim,J. ; Chung,S.
出版情報: Optoelectronic and wireless data management, processing, storage, and retrieval : 22-24 August 2001, Denver, USA.  pp.37-46,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4534
6.

国際会議録

国際会議録
Ryu,Y.-H. ; Kim,J. ; Cheong,C.-C.
出版情報: Smart structures and materials 2000 : damping and isolation : 6-8 March 2000, Newport Beach, California.  pp.39-48,  2000.  Bellingham, Washington.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3989
7.

国際会議録

国際会議録
Kim,J. ; Mo,W.-P. ; Gordon,R.L. ; Williams,A.
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XIV : 28 February - 2 March 2000, San Clara, California.  pp.308-320,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3998
8.

国際会議録

国際会議録
Hong,J. ; Joung,G. ; Yang,H. ; Park,J. ; Kim,J. ; Kim,B.
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XIV : 28 February - 2 March 2000, San Clara, California.  pp.441-448,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3998
9.

国際会議録

国際会議録
Choi,S.-B. ; Kim,H.-K. ; Lim,S.-C. ; Kim,J.
出版情報: Smart structures and materials 2000 : mathematics and control in smart structures : 6-9 March, 2000, Newport Beach, USA.  pp.370-376,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3984
10.

国際会議録

国際会議録
Cho,M.S. ; Yoo,J.K. ; Choi,S.B. ; Kim,J. ; Cheong,C.C.
出版情報: Smart structures and materials 2001 : Smart structures and integrated systems : 5-8 March, 2001, Newport Beach, USA.  pp.324-330,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4327