1.

国際会議録
国際会議録
1. NITROGEN CONTAMINATION IN SIMOX WAFER
Davis, G. E. ; Jones, K. S. ; Prussin, S.
出版情報: Silicon-on-insulator and buried metals in semiconductors : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.111-116,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 107
2.

国際会議録
国際会議録
2. OBSERVATION OF THE WURTZITE PHASE IN OMVPE GROWN 2nSe/GaAs: EFFECT ON IMPLANTATION AND RAPID THERMAL ANNEALING
Jones, K. S. ; Yu, J. ; Lowen, P. D. ; Kisker, D.
出版情報: Ion beam processing of advanced electronic materials : symposium held April 25-27, 1989, San Diego, California, U.S.A..  pp.339-344,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 147
3.

国際会議録
国際会議録
3. THE EFFECT OF IMPLANT SPECIES ON THE STABILITY OF ION IMPLANTATION DAMAGE
Jones, K. S. ; Prussin, S. ; Venables, D.
出版情報: Fundamentals of beam-solid interactions and transient thermal processing : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.277-282,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 100