1.

国際会議録
国際会議録
1. Photoluminescence Defect Diagnostics in Poly-Si Thin Films
Ostapenko,S.S. ; Savchuk,A.U. ; Nowak,G. ; Lagowski,J. ; Jastrzebski,L.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.1897-1902,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
2.

国際会議録
国際会議録
2. Evaluation of contaminant-induced charge from oxide chemical-mechanical polish
Burke,P. ; Lowell,J.K. ; Jastrzebski,L.
出版情報: Optical Characterization Techniques for High-Performance Microelectronic Device Manufacturing II.  pp.27-37,  1995.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2638