1.

国際会議録
国際会議録
1. MONITORING SIMOX LAYER PROPERTIES AND IMPLANTATION TEMPERATURE BY OPTICAL MEASUREMENTS
Harbeke, G. ; Steigneier, E. F. ; Hemment, P. L. F. ; Reeson, K. J. ; Jastrzebski, L.
出版情報: Silicon-on-insulator and buried metals in semiconductors : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.133-136,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 107
2.

国際会議録
国際会議録
2. *S0I NY CVD: AN OVERVIEW OF MATERIAL ASPECTS AND IMPLICATIONS OF DEVICE PROPERTIES
Jastrzebski, L. ; Kokkas, A. G.
出版情報: Energy beam-solid interactions and transient thermal processing : symposium held November 1983 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.417-430,  1984.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 23