1.

国際会議録
国際会議録
1. Oceanographic Applications of ALOS PALSAR Imagery to the Coast of the Korea Peninsula - A Case Study of the Hebei Spirit Oil Spill
D.-J. Kim ; J. Kang ; Y. Kim
出版情報: Proceedings of the ALOS PI 2008 Symposium, 3-7 November 2008, Island of Rhodes, Greece.  2009.  Noordwijk, The Netherlands.  ESA Communication Production Office
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 664
2.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
2. Stability of Fluid Motion in a Vehicle Subject to Harmonic Excitations
J. Kang ; H. Oh
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2006.  Reston, Va.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Astrodynamics Specialist Conference
シリーズ巻号: 2006
3.

国際会議録
国際会議録
3. Hardware, materials, and parameters optimization for improvement of immersion overlay
W. Ma ; Y. Hwang ; E. Kang ; S. Park ; J. Kang ; C. Lim ; S. Moon
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
4.

国際会議録
国際会議録
4. Enhanced hole shape of flash devices in ArF lithography by eliptical mask bias technique
Y. Jeon ; S. Jun ; J. Kang ; S. Lee ; J. Kim ; K. Kim
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
5.

国際会議録
国際会議録
5. Advanced new OPC method to improve OPC accuracy for sub-90nm technology
J. Choi ; J. Kang ; Y. Shim ; K. Yun ; J. Hong ; Y. Lee ; K. Kim
出版情報: Optical microlithography XX.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6520
6.

国際会議録
国際会議録
6. Methodology to set up accurate OPC model using optical CD metrology and atomic force microscopy
Y. Shim ; J. Kang ; S. Lee ; J. Kim ; K. Kim
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
7.

国際会議録
国際会議録
7. The study for close correlation of mask and wafer to optimize wafer field CD uniformity
M. Kim ; J. Kang ; S. Kang ; G. Jeong ; Y. Choi
出版情報: Photomask technology 2007.  3  pp.67304V-1-67304V-8,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6730
8.

国際会議録
国際会議録
8. Study on the reduction of defects in immersion lithography
K. Ban ; S. Park ; C. Bok ; H. Lim ; J. Heo ; H. Chun ; J. Kang ; S. Moon
出版情報: Advances in resist materials and processing technology XXIV.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6519
9.

国際会議録
国際会議録
9. Development of spatio-temporal data model based on feature and time-varying sequence of events for land use in the mining area
J. Hu ; Z. He ; J. Kang ; P. Liu ; X. Wei
出版情報: Geoinformatics 2008 and Joint Conference on GIS and Built Environment: The Built Environment and Its Dynamics.  1  pp.71440L-1-71440L-8,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7144
10.

国際会議録
国際会議録
10. Numerical analysis of acoustical field on AOTFs with weighted coupling
Y. Zhu ; H. Qi ; J. Kang
出版情報: 2008 International Conference on Optical Instruments and Technology: Optical Systems and Optoelectronic Instruments.  1  pp.715619-1-715619-4,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7156