1.

国際会議録

国際会議録
Shimizu, H. ; Ikeda, M. ; Shin, R.
出版情報: Analytical and diagnostic techniques for semiconductor materials, devices, and processes : joint proceedings of the symposia on: ALTECH 2003, Analytical Techniques for Semiconductor Materials and Process Characterization IV, Paris, France and the 202nd Meeting of the Electrochemical Society, Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices VI, Salt Lake City, Utah.  pp.31-36,  2003.  Pennington, NJ.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5133
2.

国際会議録

国際会議録
Ikeda, M. ; Ishigaki, T. ; Yamauchi, K.
出版情報: Medical imaging 2003 : Image perception, observer performance, and technology assessment : 18-20 February 2003, San Diego, California, USA.  pp.383-392,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5034
3.

国際会議録

国際会議録
Imai, K. ; Maruyama, S. ; Suzuld, T. ; Kudo, T. ; Miyake, S. ; Ikeda, M. ; Abe, T. ; Masuda, S. ; Tanabe, A. ; Lee, J-W. ; Shibahara, K. ; Yokoyania, S. ; Qoka, H.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.149-158,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5
4.

国際会議録

国際会議録
Imai, K. ; Maruyama, S. ; Suzuki, T. ; Kudo, T. ; Miyake, S. ; Ikeda, M. ; Abe, T. ; Masuda, S. ; Tanabe, A. ; Lee, J.-W. ; Shibahara, K. ; Yokoyama, S. ; Ooka, H.
出版情報: ULSI Process Integration : proceedings of the International Symposium.  pp.493-502,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-6
5.

国際会議録

国際会議録
Shimizu, H. ; Ikeda, M. ; Shin, R.
出版情報: Analytical and diagnostic techniques for semiconductor materials, devices, and processes : joint proceedings of the symposia on: ALTECH 2003, Analytical Techniques for Semiconductor Materials and Process Characterization IV, Paris, France and the 202nd Meeting of the Electrochemical Society, Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices VI, Salt Lake City, Utah.  pp.31-36,  2003.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-3
6.

国際会議録

国際会議録
Ikeda, M. ; Komatsu, S.-Y ; Nakamura, Y.
出版情報: THERMEC '2003 : International Conference on Processing & Manufacturing of Advanced Materials, July 7-11, 2003, Leganés, Madrid, Spain.  pp.3165-3170,  2003.  Zuerich-Uetikon, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 426-432
7.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Ikeda, M. ; Jang, J. ; Wakana, H.
出版情報: A collection of the 21st AIAA International Communications Satellite Systems Conference and Exhibit technical papers, Yokohama, Japan, 15-19 April 2003.  v. 2  pp.1197-1203,  2003.  Reston, Va.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA International Communications Satellite Systems Conference
シリーズ巻号: 2003
8.

国際会議録

国際会議録
Takeya, M. ; Ikeda, S. ; Sasaki, T. ; Fujimoto, T. ; Ohfuji, Y. ; Mizuno, T. ; Oikawa, K. ; Yabuki, Y. ; Uchida, S. ; Ikeda, M.
出版情報: Novel In-Plane Semiconductor Lasers II.  pp.117-122,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4995