1.

国際会議録

国際会議録
Zappe,H.P. ; Sopra,F.M.di ; Gauggel,H.-P. ; Gulden,K.H. ; Hovel,R. ; Moser,M.
出版情報: Laser diodes and leds in industrial, measurement, imaging, and sensors applications II : testing, packaging, and reliability of semiconductor lasers V : 26-25 January 2000, San Jose, California.  pp.106-116,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3945
2.

国際会議録

国際会議録
Sopra,F.Monti di ; Brunner,M. ; Hovel,R. ; Moser,M. ; Kapon,E.E.
出版情報: Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers V.  pp.127-135,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4286
3.

国際会議録

国際会議録
Hunziker,S.G. ; Eitel,S. ; Gulden,K.H. ; Moser,M. ; Hovel,R. ; Gauggel,H.-P. ; Brunner,M.
出版情報: Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers V.  pp.119-126,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4286